[1].ZrO2薄膜的X射线光电子能谱分析[J].郑州大学学报(工学版),2000,21(04):39-41.[doi:10.3969/j.issn.1671-6833.2000.04.010]
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ZrO2薄膜的X射线光电子能谱分析(
)
《郑州大学学报(工学版)》[ISSN:1671-6833/CN:41-1339/T]
- 卷:
-
21卷
- 期数:
-
2000年04期
- 页码:
-
39-41
- 栏目:
-
- 出版日期:
-
1900-01-01
文章信息/Info
- Title:
-
X-ray photoelectron spectroscopy of ZrO2 thin films
- DOI:
-
10.3969/j.issn.1671-6833.2000.04.010
- 文献标志码:
-
A
更新日期/Last Update:
1900-01-01